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ラマン分光、SERS、和周波発生分光法（SFG）、受託分析、原子間力顕微鏡、表面・界面分析、先端材料評価 Raman Spectroscopy, SERS, Sum Frequency Generation Spectroscopy, SFG Spectroscopy, Analytical Services, Atomic Force Microscopy, AFM, Surface Analysis, Interface Analysis, Molecular Spectroscopy, Advanced Materials Characterization ANVOS Analytics株式会社は、先端材料・表面界面・分子計測領域における分析・評価・事業開発を支援するディープテック企業です。 私たちは、研究開発段階の高度な分析技術を、材料開発・品質評価・量産プロセス・新規事業開発の現場で使える形へ接続することを目指しています。 主な取り扱い領域は、ラマン分光、SERS、和周波発生分光法（SFG）、受託分析、原子間力顕微鏡、表面・界面分析、分子計測、先端材料評価です。 特に、和周波発生分光法（SFG: Sum Frequency Generation Spectroscopy）は、表面・界面に選択的な振動分光法として、材料表面や埋もれた界面における分子配向、官能基、化学状態の評価に有効です。 樹脂、接着、コーティング、薄膜、半導体材料、電池材料、フィルム、繊維、バイオ界面など、従来の分析手法では捉えにくい「界面で何が起きているのか」を可視化するための手法として、研究開発・不具合解析・材料設計に貢献します。 また、SERS（表面増強ラマン散乱）では、高感度な分子検出を実現するSERS基板や測定・解析支援を通じて、微量成分分析、バイオサンプル評価、化学物質検出、材料表面の分子情報取得などを支援しています。 SERS基板、ラマン測定、スペクトル解析、PCAなどの多変量解析を組み合わせることで、単なる測定にとどまらず、取得した分光データを研究・開発・評価の意思決定に活用できる形へ整理します。 ANVOS Analyticsは、装置や分析技術を紹介するだけではなく、顧客の研究課題、評価目的、サンプル制約、測定条件、解析設計まで踏まえた実装型の技術支援を行います。 高度な分析技術を、現場で使える評価手法へ。 研究と産業応用をつなぐ分析パートナーとして、先端材料・ライフサイエンス・エレクトロニクス・エネルギー領域の技術開発を支援してまいります。 ANVOS Analytics Inc. is a deep-tech company supporting advanced materials analysis, surface and interface characterization, molecular spectroscopy, and analytical service development. We help connect advanced analytical technologies from research environments to real-world applications in R&D, materials development, quality evaluation, failure analysis, and industrial implementation. Our key areas include Raman spectroscopy, SERS, Sum Frequency Generation Spectroscopy, analytical services, atomic force microscopy, surface and interface analysis, molecular measurement, and advanced materials characterization. In particular, Sum Frequency Generation Spectroscopy, or SFG, is one of our core focus areas. SFG is a surface- and interface-selective vibrational spectroscopy technique that provides molecular-level information on orientation, functional groups, and chemical states at surfaces a